OPHIR雙表面反射器BT-I

45° 時(shí)的單面反射通常用于對激光光束進(jìn)行取樣，以進(jìn)行輪廓測量或功率或能量監測。在 45° 時(shí)，單個(gè)表面對 S 偏振分量的反射率是 P 偏振分量的 10 倍以上。根據激光偏振成分或穩定性的不同，這種取樣方式可能會(huì )提供非常誤導和不可靠的測量結果。(BT-I-YAG 在 1064 nm 波長(cháng)的兩個(gè)表面都進(jìn)行了 A/R 涂層，因此兩個(gè)偏振的反射率相等，均為 0.5 %）。在波長(cháng)遠低于 1064 nm 的其他波長(cháng)上，上述討論同樣適用）。任何任意的偏振分量都可以分解成等效的 S 和 P 分量。通過(guò)免費的采樣表面，任何給定的分量都會(huì )作為 S 偏振反射一次，作為 P 偏振反射二次。因此，使用兩個(gè)表面時(shí)，所有偏振分量的總反射能量是 S 偏振反射率和 P 偏振反射率之和。這使得采樣光束的 S 和 P 分量與原始光束完全相同。Beam Tap II 使用兩個(gè)反射面，使兩個(gè)反射面正交。標準 Beam Tap I 后表面在 400 至 700 nm波長(cháng)范圍內使用 AR 涂層。反射光學(xué)器件產(chǎn)生的 6 mm偏移量。輸出光束的偏轉角小于 0.007°。平面的后表面經(jīng)過(guò) AR 涂層處理，以更大限度地提高主光束的通率。標準 Beam Tap II 后表面的 AR 涂層適用于 400 至 700 nm 波長(cháng)。YAG 版本的兩個(gè)表面都有 AR 涂層，波長(cháng)為 1064 nm。Beam Tap II 采樣反射與波長(cháng)的關(guān)系從紫外到紅外，S 和 P 反射率都幾乎恒定在 0.05 %。

單面極化問(wèn)題

用于均衡 S 偏振和 P 偏振的雙面反射器

兩個(gè)反射面正交

等效 S 和 P 反射偏振

通過(guò)光束抽頭的光束路徑

光束分路器反射與波長(cháng)恒定在 0.05 %

SP90135：BT-I；光束采樣系統，單面， 1 UVFS 立方體，400 至 700 nm

SP90133：BT-II；光束抽頭光束采樣系統，雙表面，2 個(gè) UVFS 立方體，400 至 700 nm

SP90173：BT-I-YAG；光束抽頭光束采樣系統，單面，1 BK7 立方體，1064 nm

SP90172：BT-II-YAG；光束抽頭光束采樣系統，雙表面，2 個(gè) BK7 立方體，1064 nm

產(chǎn)地：美國

部件號：SP90135

波長(cháng)：400 至 700 nm

反射率：入射光束的 4 % 和 0.16 %

透明孔徑：Ø 17.5 mm

連續波損傷閾值：1 MW/cm²

脈沖波損傷閾值：1 MJ/cm²

安裝：C 安裝螺紋

表面：?jiǎn)蚊妫? 立方體

光學(xué)材料：UVFS

材料加工、增材制造、科學(xué)、IPL、光纖、眼睛防護、VCSEL、太赫茲測量、電信、汽車(chē)、直接能源、UVA