SIOS激光干涉探頭LM

LM 系列激光干涉測量探頭是長(cháng)度測量設備。使用這些探頭，可以在 20 或 50 毫米的測量范圍內以納米精度進(jìn)行觸覺(jué)測量。 由于其尺寸和 Ø 8h6 的夾持柄直徑，測量探頭與傳統測量系統兼容。集成的激光干涉儀將電機驅動(dòng)的測量套筒的測量運動(dòng)轉換為干涉信號。該光學(xué)測量信號通過(guò)光纜傳輸到光電供電和評估單元，并作為長(cháng)度值輸出。穩定的 He-Ne 激光器（其光通過(guò)光纖饋送到激光干涉儀）以及對環(huán)境對激光波長(cháng)的影響的校正是高測量精度的基礎。操作和顯示通過(guò)單獨的顯示器或通過(guò)帶有軟件的 PC 進(jìn)行。

通過(guò)激光干涉測量方法獲得高精度和準確度

高頻穩定性氦氖激光器作為材料測量

在整個(gè)測量范圍內恒定的測量力

在整個(gè)測量范圍內具有良好的線(xiàn)性度

探頭的光纖耦合

抗電磁場(chǎng)