BRUKER元素分析儀Tracer III-V+ / III-SD

Tracer III-SD 配備了專(zhuān)有的 X-Flash^® 硅漂移探測器 (SDD)，該探測器具備高速的數據捕獲、比傳統 SiPIN 探測器更高的分辨率和輕元素敏感性。當 Tracer III-SD 與可選真空系統一起使用時(shí)，可以實(shí)現超輕元素敏感性。

除了基本儀器，該系統還配有：1) 功能強大、基于臺式機的分析軟件，具備實(shí)時(shí)光譜顯示和完整的峰值鑒定；2) 可對分析儀進(jìn)行精確三維定位的三腳架；及 3) 無(wú)與倫比的應用培訓和支持。

優(yōu)點(diǎn)一覽

• 臺式儀器的功能，具備手持裝置的便利性
• 功能強大、基于臺式機的分析軟件
• 可定制的過(guò)濾器和次級目標，以?xún)?yōu)化分析結果
• 實(shí)時(shí)光譜顯示
• 與 NASA 攜手為航天飛機計劃開(kāi)發(fā)的真空技術(shù)
• 標準組件，包括 360^o 三腳架
• 專(zhuān)有的 X-FLASH^® SDD 技術(shù)（僅限 Tracer III-SD 和 IV-SD）
• 無(wú)與倫比的培訓和支持