THORLABS色散測量?jì)xChromatis

Chromatis色散測量系統可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學(xué)組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過(guò)光學(xué)系統傳播時(shí)會(huì )變寬；了解每個(gè)光學(xué)元件引起的GDD并適當補償失真，可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果，Chromatis使用時(shí)域白光干涉儀(WLI)來(lái)測量GDD。該色散測量系統包含軟件，可指導用戶(hù)進(jìn)行光束對準(條紋優(yōu)化)、自動(dòng)找到零延時(shí)位置(條紋對比max.)并快速測量色散。

Chromatis色散測量系統具有光纖耦合的穩定鹵素光源，其有效波長(cháng)范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學(xué)元件。由于干涉圖是在時(shí)域中記錄，因此可以使用單個(gè)光電二極管探測器(而不是光譜儀)進(jìn)行測量，并且內置的HeNe參考激光器可對波長(cháng)軸進(jìn)行校準。該系統包括一個(gè)波長(cháng)為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測器進(jìn)行1000-1650 nm波長(cháng)范圍內的測量。

通常，低色散光學(xué)元件僅需要幾百飛秒即可捕獲整個(gè)干涉圖，因此使用濾光片限制入射光的波長(cháng)范圍常有助于減少所需的掃描范圍和總體噪聲。Chromatis色散測量系統具有六個(gè)用于濾光片的插槽，并且包含覆蓋500-700 nm、600-1000 nm和950-1100 nm波長(cháng)范圍的帶通濾光片，用于與硅光電二極管配合使用。由于濾光會(huì )降低掃描的整體強度，因此會(huì )降低干擾對比度，而光電二極管具有可變的增益設置以補償此衰減。

• 用于測量色散的白光干涉儀
• 穩定鹵素光源的寬帶發(fā)射
• 可安裝Ø1/2英寸和Ø1英寸的光學(xué)元件
• 標準測量模式，包含夾具和參考光學(xué)元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

• 可選反射鏡對夾具
• 同時(shí)測量S偏振和P偏振
• 包含用于波長(cháng)自校準的HeNe參考激光器
• 包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器
• 可選兩個(gè)用戶(hù)可更換的探測器
• 機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備
• 由包含的預裝軟件Windows筆記本操作

• InGaAs 檢測器模塊，用于測量至 1650 nm
• 2”光學(xué)裝置
• 鏡對夾具
• 用于測量高色散光學(xué)器件（例如 AOM 晶體）的硬件
• 范圍擴展到7 或 2.2 微米

確認膜層設計規格

光學(xué)元件檢查

質(zhì)量控制測量